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16
2025-07
激光粒度儀測粒徑原理：光散射技術與顆粒表征的核心解析
激光粒度儀通過光散射物理現象實現顆粒尺寸的精準測量，其技術本質是激光與顆粒相互作用的能量空間分布解析。當單色激光束穿透分散的顆粒群時，不同尺寸的顆粒對光波的散射行為呈現顯著差異——這種差異被精密的光電 ...
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09
2025-07
基于LEDLS技術的二氧化硅拋光液濃度與粒徑精準表征
關鍵詞：CMP拋光液、濃度檢測、體積分數、LEDLS技術、BeNano 180 Zeta Max一、濃度檢測的工業意義在半導體制造中，二氧化硅拋光液濃度直接影響CMP（化學機械拋光）工藝質量：濃度過高 ...
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09
2025-07
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02
2025-07
基于透射光路法的液體折射率高精度檢測
關鍵詞：液體折射率（RI）、光散射測試、BeNano 180 Zeta Max、透射光路法、分散體系一、折射率檢測的重要性在動態/靜態光散射（DLS/SLS）及電泳光散射測試中，分散液的折射率（RI） ...
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02
2025-07
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18
2025-06
基于靜態光散射流動模式的單抗IgG分子量及聚集態分析
一、技術原理BeNano靜態流動模式通過與凝膠滲透色譜（SEC/GPC）聯用，實現對生物大分子（如單克隆抗體IgG）的精準分離與絕對分子量測定。其工作流程如下：分離階段：SEC色譜柱（如TSK氧化硅柱 ...
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2025-06
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11
2025-06
激光粒度儀在材料表征中的作用是什么？
一、技術原理：多尺度顆粒體系的解碼器靜態光散射技術通過測量顆粒群對激光的散射角度與光強分布，反演微米至毫米級顆粒的粒度分布，適用于粉體、漿料等寬分布體系典型應用案例：陶瓷原料粉體通過粒度分布控制，可優 ...
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2025-06
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